|
14 июня 2011 года
По итогам работы за 2010-2011 гг. ЗАО "Компания "НТНК" признана лучшим
европейским дистрибьютором NMO Agilent Technologies.
| |
31 мая-02 июня 2011 года
В Москве, в Экспоцентре прошла Международная выставка-конференция SEMICON Russia 2011, посвящённая
оборудованию для полупроводниковой электроники. Компания НТНК принимала участие в выставке представив посетителям
готовое решение для проведения радиочастотных/микроволновых измерений на базе оборудования CASCADE MICROTECH и Agilent Technologies.
| |
НАНОТЕХНОЛОГИИ XXI – 2011
18-21 апреля 2011 года Компания НТНК приняла участие в
4-й Международной специализированной выставке «НАНОТЕХНОЛОГИИ XXI – 2011» 12-го Международного Форума
«Высокие технологии XXI века», проходившей в ЦВК «Экспоцентр».
| |
Экспоэлектроника 2011
19-21 апреля 2011 года Компания НТНК приняла участие в 14-я МЕЖДУНАРОДНОЙ СПЕЦИАЛИЗИРОВАННОЙ ВЫСТАВКЕ
ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ И ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ОБОРУДОВАНИЯ,
9-я МЕЖДУНАРОДНОЙ СПЕЦИАЛИЗИРОВАННОЙ ВЫСТАВКЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ОБОРУДОВАНИЯ И МАТЕРИАЛОВ ДЛЯ ПРОИЗВОДСТВА ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
И МЕЖДУНАРОДНОЙ ВЫСТАВКЕ СВЕТОДИОДНЫХ РЕШЕНИЙ, ЧИПОВ И ОБОРУДОВАНИЯ ДЛЯ ИХ ПРОИЗВОДСТВА, проходившей в МВЦ «Крокус Экспо».
| |
14 февраля 2011 года
Новый комбинированный генератор сигналов Agilent Technologies 81160A
Компания Agilent Technologies представила высокоточный генератор импульсов, сигналов стандартной/произвольной формы и шума
для тестирования новейших высокоскоростных и широкополосных устройств.
Новый генератор позволяет тестировать более высокоскоростные и широкополосные устройства с аналоговыми, цифровыми и смешанными сигналами.
Генератор Agilent 81160А устраняет необходимость создания громоздкой системы из нескольких приборов для испытаний устройств в предельных режимах.
| |
5 января 2011 года
Agilent представляет две новых опции для векторных анализаторов цепей E5061B серии ENA.
Это опция RF NA для анализа цепей RF (RF Network Analysis) и опция ZA для анализа импеданса (impedance analysis).
Опции увеличивают частотный диапазон анализатора, скорость, возможность модернизации и повышают универсальность прибора.
Это позволяет анализатору обеспечивать хорошую производительность для базовой цепи RF и измерения импеданса по разумной цене.
|
|
1 - 3 ноября 2010 года
С 1 по 3 ноября Компания НТНК приняла участие в выставке «Rusnanotech-2010».
На стенде было представлено измерительное оборудование фирм Agilent Technologies и Cascade Microtech.
Выставка прошла в ЦВК «Экспоцентр», павильон «Форум».
Информация о выставке www.rusnanoforum.ru
|
|
Наноизмерения
С начала 2010 года Компания является авторизованным дистрибутором подразделения Nanoscale Measurements Operation компании Agilent Technologies (www.agilent.com/find/nano) продукцией которого являются зондовые измерительные системы для определения физических, механических и геометрических параметров поверхности, как то:
• наноинденторы (напр., Agilent Nano Indenter G200)
• атомно-силовые микроскопы (напр., Agilent 5420 AFM/SPM)
• настольные сканирующие электронные микроскопы (Agilent Novelx)
Системы серии Nano Indenter используются для проведения инструментальных испытаний непрерывным вдавливанием (наноиндентированием) с целью измерений механических свойств поверхности. Исследования проводятся в соответствии стандарту ISO 14577 (1, 2 и 3 частям) по методике калибровки, компенсации температурного дрейфа и анализу неопределенностей. Также компанией Agilent производятся системы для механических испытаний тонких волокон. Это универсальные испытательные машины Agilent UTM T150, позволяющие проводить статические и динамические одноосные испытания микроволокон.
|
|
|
| |
